1. CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

المؤلف:

المکتبة: کتابخانه زبانهای خارجی و منابع اسلامی (قم)

موضوع: Metal oxide semiconductors, Complementary -- Design. ,Random access memory.,نیمه هادی‌های اکسید فلزی مکمل -- طراحی ,حافظه دسترسی تصادفی

رده :
E-Book
,

2. CMOS SRAM circuit design and parametric test in nano-scaled technologies :process-aware SRAM design and test

المؤلف:

المکتبة: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)

موضوع: Design ، Metal oxide semiconductors, Complementary,، Random access memory,، Nanoelectronics

رده :
TK
7871
.
99
.
M44P38
2008

3. CMOS analog circuit design /

المؤلف:

المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)

موضوع: Linear integrated circuits,Metal oxide semiconductors, Complementary

رده :
TK7874
.
A428
2012

4. CMOS analog circuit design [electronic resource]

المؤلف:

المکتبة: مكتبة ومركز معلومات جامعة الإمام الرضا العالمية (خراسان رضوی)

موضوع: Linear integrated circuits,Metal oxide semiconductors, Complementary,TECHNOLOGY & ENGINEERING / Engineering (General).--bisacsh,TECHNOLOGY & ENGINEERING / Electronics / Circuits / Integrated.--bisacsh

رده :
EB
,
TK7874
.
A428
2012

5. Deep-submicron CMOS-ICs :

المؤلف:

المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)

موضوع: Application-specific integrated circuits.,Metal oxide semiconductors, Complementary.,Application-specific integrated circuits.,Metal oxide semiconductors, Complementary.

رده :
TK7871
.
99
.
M44
V44
1998

6. Defect oriented testing for nano metric CMOS vlsi circuits

المؤلف:

المکتبة: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)

موضوع: ، Metal oxide semiconductors, Complementary- Testing,، Metal oxide semiconductors, Complementary- Defects

رده :
TK
7871
.
99
.
M44
S23
2007

7. Design and analysis of integrator-based log-domain filter circuits

المؤلف:

المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)

موضوع: Electric circuit analysis.,Log domain filters -- Design and construction.,Metal oxide semiconductors, Complementary -- Design and construction.

8. IDDQ testing of VLSI circuits

المؤلف:

المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)

موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing,Metal oxide semiconductors, Complementary - Testing,Iddq testing

رده :
TK
7874
.
I3223
1993

9. 2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing, April 30, 2000, Montreal, Canada

المؤلف:

المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)

موضوع: Testing -- Congresses ، Metal oxide semiconductors, Complementary,Congresses ، Iddq testing,Defects -- Congresses ، Integrated circuits

رده :
TK
7871
.
99
.
M44
2000

10. Integrated circuit manufacturability

المؤلف:

المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید مدنی آذربایجان (أذربایجان الشرقیة)

موضوع: Integrated circuits, Computer-aided design,Metal oxide semiconductors, Complementary, Computer-aided design,Integrated circuits, Testing

رده :
TK
,
7874
,.
I4713

11. Lab-on-a-chip :

المؤلف:

المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)

موضوع: Biomedical engineering.,Chemical laboratories-- Electronic equipment.,Microelectromechanical systems.,Biosensing Techniques.,Lab-On-A-Chip Devices.,Microchemistry.,Microchip Analytical Procedures.,Microtechnology.,Nanotechnology.,Biomedical engineering.,Chemical laboratories-- Electronic equipment.,Microelectromechanical systems.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Digital.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Microelectronics.

رده :
TK7875
.
G43
2010

12. Microelectronic test structures for CMOS technolog

المؤلف:

المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)

موضوع: Metal oxide semiconductors, Complementary, Testing,Electronic books., local

رده :
TK7871
.
99
.
M44
,
B48
2011

13. Microelectronic test structures for CMOS technology

المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)

موضوع: Metal oxide semiconductors, Complementary ; Testing. ;

14. Microelectronic test structures for CMOS technology

المؤلف:

المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)

موضوع: Metal oxide semiconductors, Complementary--Testing

رده :
TK
,
7871
.
99
,.
M44
,
B49
,
2011

15. Microelectronic test structures for CMOS technology

المؤلف:

المکتبة: المكتبة المركزية بجامعة تبريز و مركز التوثيق والنشر (أذربایجان الشرقیة)

موضوع: Metal oxide semiconductors, Complementary--Testing

رده :
TK7871
.
99
.
M44B49
2011

16. metric CMOS VLSI circuits-oriented testing for nano-Defect

المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)

موضوع: Integrated circuits ; Very large scale integration ; Defects. ; Integrated circuits ; Very large scale integration ; Testing. ; Metal oxide semiconductors, Complementary ; Defects. ; Metal oxide semiconductors, Complementary ; Testing. ;